日本ae-mic高精度直流電阻檢查器AE-182A

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更新日期：2025-05-02

簡要描述：

日本ae-mic高精度直流電阻檢查器AE-182A
適合 D，F(xiàn)，G，J，K類RDC測量，電阻分選機(jī)/繞線機(jī)，電感器，熱敏電阻

日本ae-mic高精度直流電阻檢查器AE-182A

適合 D，F(xiàn)，G，J，K類RDC測量，電阻分選機(jī)/繞線機(jī)，電感器，熱敏電阻

新功能

特性

與極小的芯片兼容（低功率測量）
超高速測量（代表值，從START到EOC的實(shí)際測量值0.9毫秒）
通過熱動力消除測量實(shí)現(xiàn)高度準(zhǔn)確和穩(wěn)定的測量
通過每個范圍的積分時間設(shè)置功能實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量
％測量：-99.99％至+ 25.00％[標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置范圍5mΩ至109MΩ]
值測量：0.00mΩ至125.00MΩ
接觸檢查：可以選擇測量前/測量后/關(guān)閉
（在任何狀態(tài)下測量期間均會持續(xù)監(jiān)控接觸狀態(tài)）
觸頭清潔功能標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（可選GP-IB / LAN /條形碼）
打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（與Centronics兼容）
設(shè)定值傳送功能的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備：（
相同的設(shè)定數(shù)據(jù)可以傳送到另一臺AE-182A，AE-162E并自動設(shè)置）
測量電流/測量電壓/ ADC數(shù)據(jù)異常檢查功能為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

校準(zhǔn)后180天[校準(zhǔn)后1年：1.5倍]的測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

日本ae-mic高精度直流電阻檢查器AE-182A

測量范圍	標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍	實(shí)測電流	測量精度^*
測量范圍	標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍	實(shí)測電流	慢	快速
100毫歐	5.00mΩ?109.00mΩ	100毫安	±0.02％±2α±2d以內(nèi)	≤±0.03％±3α±2d±[2 /（1 + n）] d
1Ω	0.0500Ω-1.0900Ω	100毫安	±0.02％±α±1d以內(nèi)	≤±0.02％±α±2d±[2 /（1 + n）] d
10Ω	0.500Ω至10.900Ω	50毫安	±0.02％±α±1d以內(nèi)	≤±0.02％±α±2d±[2 /（1 + n）] d
100Ω	5.00Ω至109.00Ω	10毫安	±0.02％±1d以內(nèi)	在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
1kΩ	0.0500kΩ至1.0900kΩ	5毫安
10kΩ的	0.500kΩ至10.900kΩ	0.5毫安
100kΩ的	5.00kΩ至109.00kΩ	50微安
1兆歐	0.0500MΩ至1.0900MΩ	5微安		在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
10兆歐	0.500MΩ至10.900MΩ	0.5微安	±0.03％±1d以內(nèi)	在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
100兆歐	5.00MΩ至109.00MΩ	0.05微安	±0.1％±2d以內(nèi)	— —

* D =數(shù)字，n =積分時間（毫秒），％（偏差）測量：α=（100 /標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置值mΩ）x 0.01％，
　　值測量：α= 0（加±1d））
**屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間	外部啟動		自由奔跑
	慢	快速	慢	快速
	大約17.4毫秒-400毫秒	大約0.9毫秒-400毫秒	約30次/秒? 約2次/秒	約60次/秒? 約2次/秒

*測量速度在保證的精度范圍內(nèi)。在實(shí)際使用中，測量時間比全量程AE-162E短。

AE-182A機(jī)身	?外部控制I / O，RS-232C，Centronics標(biāo)準(zhǔn)
選項(xiàng)	? GP-IB
	?局域網(wǎng)
	?條形碼接口（232C型，讀卡器另售）
	?數(shù)據(jù)傳輸線
	?短接（零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻）

*請參閱附件目錄以獲取各種通用選項(xiàng)，例如鑷子探頭和測量端子轉(zhuǎn)換連接器